热点关注：  
放射性同位素 粒子加速器 辐照杀菌 无损检测 高新核材 辐射成像 放射诊疗 辐射育种 食品辐照保鲜 废水辐照 X射线 中广核技 中国同辐

Metrology新闻
APDIS新型激光雷达系统 将测量时间缩短了一半

APDIS新型激光雷达系统 将测量时间缩短了一半

经过数千小时的严格测试，Nikon Metrology推出了一种新的激光雷达系统，该系统可实现车间质量控制的范式转变。APDIS激光雷达是一种自动化的非接触式计量解决方案，能够以两倍于以前版本的速度检查特征，并提供与水平臂坐标测量机(CMM)等效的高精度测量。 2020-11-11