日本电子(JEOL)宣布推出新的冷场发射低温电子显微镜

日本电子(JEOL)宣布了新的冷场发射低温电子显微镜(低温EM )的发布，ARM CRYO™300 II(JEM-3300)，于2021年1月发布。这一新的冷冻电镜以“快速且易于操作获得高对比度和分辨率”为理念设计开发。

CRYO ARM™300II产品开发背景

分辨率显着提高的cryo-EM单颗粒分析(SPA)已使SPA成为蛋白质结构分析的重要方法。为了满足这一市场需求，JEOL于2017年发布了CRYO ARM™300。CRYOARM™300配备了冷场发射枪(Cold FEG)以提高分辨率，并配备一个低温工作台以加载多个样品。

但是，以前使用cryo-EM的SPA的工作流程需要多个电子显微镜，因为样品筛选和图像数据获取的工作流程是相互独立的。该问题导致了冷冻EM用户的大量运营成本。由于必须使用多个显微镜，因此在冷冻EM之间转移冷冻样品很不方便。因此，用户一直在要求一种cryo-EM，以实现从样品筛选到图像数据采集的完整工作流程。此外，为了使各种用户使用cryo-EM，需要提高可用性，从而使从新手到专业用户的任何人都能顺利地操作显微镜。

为了满足这些要求，JEOL开发了一种新型的cryo-EM CRYO ARM™300 II。这种显微镜实现了可方便快捷地操作高质量的数据采集与前CRYO ARM ™300 相比有很大的改进。

CRYO ARMTM 300II主要特点

1.通过最佳电子束控制实现高速成像

为了支持从样品筛选到图像数据采集的完整工作流程，提高图像数据采集的通量至关重要。在CRYO ARM™300 II中，样品台的精确移动与出色的光束移位性能相结合，可实现高速数据采集。此外，独特的“科勒模式”照明可将均匀的光束照明到样品上的特定位置，从而可从较小的区域获取更多的图像。这些新技术使CRYO ARM™300 II的吞吐量是CRYO ARM™300的两倍或更高。

2.改进的硬件稳定性可实现高质量的图像采集

在执行SPA中，尽管获取大量图像可以提高吞吐量，但这还不够。需要从少量图像中进行高分辨率的数据重建，这是通过高图像质量实现的。为此，CRYO ARM™300 II配备了新的冷场发射枪(冷FEG)。该FEG以前已合并到2020年发布的高端原子分辨率分析电子显微镜GRAND ARM™2中。像GRAND ARM™2一样，这种新型Cold FEG可产生高度稳定的探测电流。CRYO ARM™300 II还配备了具有出色稳定性的新型柱内Omega能量过滤器。这款新的Cold FEG和新的Omega能量滤波器使用户能够获取极高的信噪比图像。

3.通过系统改进实现更高的可操作性

CRYO ARM™300 II包括各种系统改进。显微镜配备了用于执行SPA的新的JADAS(用于Cryo-EM的JEOL自动数据采集系统)软件(升级到版本4)。此JADAS 4软件是为新手用户开发的，可提高数据采集的可操作性。新型Omega过滤器具有自动自我调节系统，可减少日常维护。

显微镜的样品台具有出色的位置再现性。即使用户在显微镜列和样品存储之间来回转移样品，仍然可以使用整个样品网格的初始低倍率图像(全局图)。在此短暂的数据采集过程中，也可以停止图像数据采集并快速筛选样品网格。

自动标本交换系统最多可存储12个样品。样品栅格可以在存放几周或更长时间的情况下保持清洁，而不会被样品冰层污染。