高性能大面积碳化硼薄膜样品。受访单位供图。
据了解,经过多年技术攻关和工艺试制,团队攻克了溅射靶材制作、过渡层选择、基材表面处理等对镀膜质量影响大的关键技术,利用该装置制备了多种规格的碳化硼薄膜,并成功应用于CSNS多台中子谱仪上的陶瓷GEM中子探测器,实现了中子探测器关键技术和器件的国产化,为接下来研制更大面积的高性能新型中子探测器提供了强有力的技术支撑。